探伤仪及探头测试方法

钢轨探伤仪及探头测试方法（根据TB/T2340-2012）

一、斜探头入射点和探头的前沿长度测试

1、将斜探头置于CSK-1A试块的B面上，使斜探头在R100圆弧圆心上，前后移动探头使圆弧回波达到最大值（控制在80%波幅）。此时斜探头底面与试块圆心的相交点即为探头入射点。用钢尺量出探头距R100圆弧的距离，记录下数据M 2、探头入射点据探头的前沿长度: L=100-M.

二、折射角的测试

1、将70°斜探头置于CSK-1A试块的B面上，使斜探头在R50圆弧面上，前后移动探头使波高达到80%，用钢尺量出探头到试块端面B面的距离，记下数据X。

2、根据折射角公式，得K1=（X。+L-35）/30 β1=arctanK1， 标准规定70°探头误差范围：-3°≤△β≤0°为合格。 3、将37°斜探头置于CSK-1A试块A面上，前后移动探头使R50的圆弧面的波高达到80%，用钢尺量出探头到试块A面端面的距离，记录下数据X2，

4、

根据折射角公式，得：K2=（X2+L-35）/70 β2=arctanK2

标准规定37°斜探头误差范围0°≤△β≤3°为合格。

三、水平线性的测试

1、将0°直探头置于csk-1A试块的厚度为25mm的探测面上，使厚度为25mm的十次底波显示在示波屏的10格上，调整衰减器，使第十次回波到达50%。

2、计算偏差值：a=实测值-理论值 3、取最大偏差值的绝对值代入公式， 通用/焊缝 ΔL=|Amax|×100%/b

水平线性误差≤2%为合格

母材 ΔL=|Amax|×100%/0.8b

根据 TB/T2340-2012标准规定应ΔL≤2%，为合格。

四、垂直线性的测试

1、将0°直探头置于cs-1-5试块上探测Φ2平底孔，移动探头使Φ2平底孔的波高达到100%。

2、待反射波稳定后，以每次2dB逐次衰减，并记下 每次衰减的波高实测值，计算出实测值与理论值的偏差值d。

3、取最大正偏差和最大负偏差，带入公式，得Δd=【|d(+)|+|d(-)|】%

标准规定垂直线性误差：1、母材探伤仪≤15%为合格。2、焊缝和通用探伤仪≤8%为合格。

五、动态范围的测试

1、将仪器抑制置于“小”，使0°直探头置于CS-1-5试块上，使Φ2平底孔的回波达到100%，记下dB1.然后调整衰减器使Φ2平底孔的回波达到0，记下dB。,将后计算。dB。-dB1≥16dB为合格。

2、将仪器抑制置于“大”，使0°直探头置于cs-1-5试块上，使使Φ2平底孔的回波达到100%，记下dB1，调整衰减器使Φ2平底孔的回波达到0，记下dB.，将后计算dB.-dB1 结果为2-6dB为合格。

六、盲区的测试*

1、利用CSK-1A试块上Φ50孔距两侧边缘5mm和10mm的边距测盲区大小，分别将探头放在CSK-1A试块A面上测5mm的盲区，在侧面上测10mm盲区，分别看孔波与始波间是否有波谷且波谷在时基线上，若谷底不在时基线上则不能分辨孔波，一般先探10mm边距，若能分辨则盲区小于10mm，可再探5mm边距，若不能分辨则至少5mm是盲区。

七、分辨力的测定

1、将0°探头放在csk-1A试块槽口上，左右移动探头并调节衰减器使85和91两反射面波高相等并达到波高的100%，读出波谷的高度h，代入公式计算：R=20lg（100/h)。 标准规定 0°探头分辨力R≥18dB为合格;

2、将斜探头置于csk-1A试块上，前后移动探头并调节仪器找到Φ50和Φ44两个台阶孔的最高波，再横向移动探头使Φ50和Φ44两孔波峰等高并调节仪器使其达到100%波高，读出波谷的高度h，代入公式计算：R=20lg（100/h)。 标准规定 斜探头分辨力R≥14dB为合格 3、若h=0 则取R>30dB.

八，钢轨探伤仪灵敏度余量的测试

探伤仪的测量通道的灵敏度置最高状态，抑制置最小，若仪器的电噪声（不接探头）电平较高。则降低增益，使电噪声电平降至满刻度的10%，设此时的衰减器读数为S0

1、0°探头置于WGT-3试块110mm底面上，70°和37°探头置于WGT-3试块深65mm处Φ3mm横孔作为基准。

2、保证耦合良好，且与试块侧面保持平行，前后移动探头，调节仪器衰减器，使各基反射体波高达到80%，此时读出衰减器的读数S1，代入公式：S’=S1-S0

标准规定：0°、37°和70°灵敏度余量≥40dB。

九、钢轨探伤仪缺陷检出能力测试

在GTS-60或GTS-75试块上，

将钢轨探伤仪调整到实际钢轨探伤状态，在某一固定的探伤灵敏度和无误报的情况下，应能检出GTS-60试块上除15°倾斜下裂

以外的各种人工缺陷，并能正常报警。

十、零点调试（通用探伤仪，9008焊缝探伤仪）

1、将斜探头置于CSK-1A试块的B面上，前后移动探头使R100圆弧回波达到80%，此时出波的声程不在100上，调整细调使100圆弧的回波平移到100上，此时始波进入荧光屏的左侧。目的是消除工件表面到晶片的误差。

2、将直探头置于csk-1A试块上的91mm的平台上，使91mm的出波达到80%，此时的出波声程不在100上，调整细调使91mm的回波平移到100上，此时始波进入荧光屏的左侧。目的是消除工件表面到晶片的误差。

十一、信噪比的测试

0°探头：在GTS-60或GTS-75试块上探测底面回波，当波高达到80%时的静态灵敏度余量大于或等于24dB，信噪比不小于16dB。（意思是：底波高达到80%时的在将增益提高16dB底波不出杂波为合格）;

37°探头：在GTS-60或GTS-75试块上探测螺孔和37倾角的3mm的上裂使两波等高；并使波高达到80%时的静态灵敏度余量大于或等于22dB，信噪比不小于8dB。 （意思是：波高达到80%在将增益提高8dB伤波和孔波前不出杂波为合格）

70°探头：在GTS-60或GTS-75试块上，用二次波探测直径4mm

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