Siemens Advia 系列生化仪参数详解 - 图文(6)

图20 Spline样条非定标曲线示意图

在多点定标中，由于试剂随着使用时间的推移性能会发生改变，其中包括颜色的改变。所以每天开机画面中会提供简单定标（Simplified calibration）这个选项，原理是根据前后试剂空白修正整条定标曲线。

图21 Simplified calibration简单定标示意图

在图11中，左侧是定标细则的选项，其中，Calc.mthd表示计算方法，有ABS（因数法）、1-Point（1点定标）和Multi-Point(多点定标)三个选项；

在Axis Conv.轴线变换中，有No Conv.（不变换）、Log.-Linear（对数线性）和Log.-Log.（对数）三种选择；

在Multipoint Formula（多点公式）中，有Linear（线性定标）、quadratic（一元二次直线方程定标）、Cubic（一元三次直线方程定标）、Spline（样条曲线）、Line Graph（折线）、Logit-Log1、Logit-Log2和Logit-Log3等8种方式；

在# cal Stds里，要填写包括试剂空白在内的校准点数量。

图22 多点非线性定标示意图

从图中我们看到，四个校准品的数值成梯度倍比关系，但无法做出满意的样条曲线，是否需要改为对数曲线还需要观察。

图23 原厂试剂多点非线性定标示意图

这是原厂的IgM定标曲线，没有做试剂空白。定标浓度并非梯度倍比稀释，但只有这样才能保证Logit-Log3曲线的完美。好像国外很少使用样条曲线定标。而这个项目恰恰是样条曲线。如果用最高浓度倍比梯度稀释，就会得到一幅漂亮的样条曲线。

三、读点前移：

前面说过，Advia的读点前移技术是为了应对底物耗尽的速率反应，采用样本吸光度限制Sample u/d和试剂空白限制Blank u/d来进行计算和判断。要知道是，底物耗尽有时并不是因为样本的浓度或活性太高导致的，试剂污染或失效也有可能。所以读点前移技术和底物耗尽判断，从另一个方面讲，也是对试剂性能的一个监测。

由于底物耗尽仅仅存在于速率法的反应当中，所以这里描述的均为速率法。

下面两张图就是超过Sample u/d限制后的底物耗尽图例：

图24 间接或相反反应超过Sample d限制的底物耗尽反应图示

图25 直接反应超过Sample u限制的底物耗尽反应图示

注意图25中27点出现的拐点，这已经是不明显的底物耗尽的表现。

样本吸光度限制和试剂空白的配合使用，加上检查点checkD.P.I的介入，可以很容易的判断试剂性能。

下图是极端情况下的试剂空白限制的图例

图26 试剂空白图例

通过试剂空白计算出来的Blank u/d值与样本测试时主读点区主波长吸光度值进行比较，如果超出这个范围将会用U/D来标示结果，以提示操作人员该结果不可靠。

检查点check D.P.I的选择一般在R2也就是启动反应物加入之前或之后的一个点，而E2的吸光度计算点则选择在6、7、8这三个读点上。注意这仅仅是用来监测底物耗尽的，如果用E2来监测LIH样本，则读点应该在2、3、4、5这些地方。

在直接反应中，也就是单试剂项目里：

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