自控理论实验实验指导书(LABVIEW)(7)

自动控制理论实验指导 (显示示波器信号源发出的输入波形)。 ②硬件接线完毕后,检查USB口通讯连线和实验箱电源后，运行上位机软件程序,如果有问题请求指导教师帮助。

③进入LabVIEW实验界面后，先对显示进行设置：选择显示模式（在LabVIEW图形控件的右边），可先选择“X-t模式”，或选择“X-Y模式”，或同时显示两种模式.在两种不同显示方式下都观察一下非线性的特性；选择“T/DIV量程”（在实验界面的右边框里）为1HZ/1S。在选择显示模式为“X-t模式”时。

④进行实验设置，先选择“测试信号”为正弦波，然后设置信号的幅值5（不是唯一的，可根据实验曲线调整大小），“测试信号”也可以为周期斜坡信号，显示模式可以同时用两种显示模式显示非线性静特性，也可以按照需要选择任一种显示模式，如“X-T 模式”或者是“X-Y 模式”。

对“正弦波”：选择“幅值”为“5V”，选择“偏移”为0V，选择“T/DIV”为“1HZ/1S”。 对“周期斜坡信号”：选择“幅值”为“10V”，选择“偏移”为－5V，选择“T/DIV”为“1HZ/1S”。

⑤以上设置完成后，按照上面的步骤④设置好信号后，点击“下载数据”按钮，将设置的测试信号发送到数据采集系统。按“开始”按钮启动实验，动态波形得到显示，直至周期反应过程结束，实验也自动结束，如设置合理就可以在主界面中间得到反映该非线性环节静态特性的波形。注意，采用不同测试信号看到的波形或曲线是不同的。

⑥改变环节参数，按“开始”启动实验，动态波形得到显示，直至周期反应过程结束，实验也自动结束，如设置合理就可以在主界面中间得到反映参数改变对该非线性环节静态特性影响的波形。，

⑦按实验报告需要，将图形结果保存为位图文件，操作方法参阅软件使用说明书。 2．利用实验设备，设计并连接饱和型非线性环节的模拟电路，完成该环节的静态特性测试；并改变参数，观测参数对静态特性的影响。

参阅本实验附录2,从图5.2.1和图5.2.2可知，利用实验箱上的单元U7即可获得实验所需饱和型非线性环节的模拟电路。单元电路中双向稳压管的稳压值为2.4V，改变U7中的电位器的电阻接入值，即可改变饱和特性参数K与M，K与M随阻值减小而减小。

可利用周期斜坡或正弦信号测试非线性环节的静态特性，具体操作方法请参阅本实验步骤1，这里不再赘述。

3．利用实验设备，设计并连接具有死区特性的非线性环节的模拟电路，完成该环节的静态特性测试；并改变参数，观测参数对静态特性的影响。

参阅本实验附录3,从图5.3.1和图5.3.2可知，利用实验箱上的单元U5，将该单元中的拨键S4拨向上方即可获得实验所需具有死区特性的非线性环节的模拟电路。改变U5中的电阻Rf的阻值，即可改变死区特性线性部分斜率K，K随Rf增大而增大。改变U5中的

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自动控制理论实验指导 电阻R1（＝R2）的阻值，即可改变死区特性死区的宽度Δ，Δ随R1增大而增大。 可利用周期斜坡或正弦信号测试非线性环节的静态特性，具体操作方法请参阅本实验步骤1，这里不再赘述。

4．利用实验设备，设计并连接具有间隙特性的非线性环节的模拟电路，完成该环节的静态特性测试；并改变参数，观测参数对静态特性的影响。

参阅本实验附录4,从图5.4.1和图5.4.2可知，利用实验箱上的单元U5，将该单元中的拨键S4拨向下方即可获得实验所需具有间隙特性的非线性环节的模拟电路。改变U5中的电容Cf的阻值，即可改变间隙特性线性部分斜率K，K随Cf增大而减小。改变U5中的电阻R1（＝R2）的阻值，即可改变死区特性死区的宽度Δ，Δ随R1增大而增大。

可利用周期斜坡或正弦信号测试非线性环节的静态特性，具体操作方法请参阅本实验步骤1，这里不再赘述。

请注意，单元U5不含运放锁零电路，为避免电容上电荷累积影响实验结果，在每次实验启动前，务必对电容进行短接放电。 5．分析实验结果，完成实验报告。 四．附录 1．具有继电特性的非线性环节 具有继电特性非线性环节的静态特性，即理想继电特性如图5.1.1所示。该环节的模拟电路如图5.1.2所示。 继电特性参数M，由双向稳压管的稳压值与后一级运放放大倍数之积决定。故改变图5.1.2中电位器接入电阻的数值即可改变M。当阻值减小时，M也随之减小。 实验时，可以用周期斜坡或正弦信号作为测试信号进行静态特性观测。注意信号频率的选择应足够低，如1Hz。通常选用周期斜坡信号作为测试信号时，选择在X-Y显示模式下观测；选用正弦信号作为测试信号时，选择在X-t显示模式下观测。 uoM0uiM图5.1.110kui10k-+++10k-+uo图5.1.2- 31 自动控制理论实验指导 2．具有饱和特性的非线性环节 具有饱和特性非线性环节的静态特性，即理想饱和特性如图5.2.1所示： 该环节的模拟电路如图5.2.2所示： 特性饱和部分的饱和值M等于稳压管的稳压值与后一级放大倍数的积，特性线性部分的斜率K等于两级运放放大倍数之积。故改变图5.2.2中的电位器接入电阻值时将同时改变M和K，它们随阻值增大而增大。 实验时，可以用周期斜坡或正弦信号作为测试信号进行静态特性观测。注意信号频率的选择应足够低，如1Hz。选用周期斜坡信号作为测试信号时，可在X-Y显示模式下观测；选用正弦信号作为测试信号时，可在X-t显示模式下观测。 uoM0uiM10k图5.2.110k10k-++ui10k-++uo图5.2.23．具有死区特性的非线性环节 具有死区特性非线性环节的静态特性，即理想死区特性如图5.3.1所示： 该环节的模拟电路如图5.3.2所示： 斜率K为： k?Rf/R0 uo死区??R2?15(v)?0.5R2(v)，式中R2的单位30k0为k?，且R2＝R1（实际死区还要考虑二极管的压降值）。 实验时，可以用周期斜坡或正弦信号作为测试信kui号进行静态特性观测。注意信号频率的选择应足够低，如1Hz。选用周期斜坡信号作为测试信号时，可在X-Y显示模式下观测；选用正弦信号作为测试信号时，可在X-t显示模式下观测。 32 图5.3.1- 自动控制理论实验指导 +15v30kRf10kR-++uiR1R230k-15v10kR0-++Ruo图5.3.24．具有间隙特性的非线性环节 具有间隙特性非线性环节的静态特性，即理想间隙特性如图5.4.1所示： uoCB该环节的模拟电路如图5.4.2所示： 图中间隙特性的宽度0DEAuiR2?15(v)?0.5R2(v),（实际死区还要考虑二30C极管的压降值），特性斜率tg??i，因此改变R1Cf??与R2可改变间隙特性的宽度，改变Ci可以调节特Cf图5.4.1性斜率。实验时，可以用正弦信号作为测试信号进行静态特性观测。 注意信号频率的选择应足够低，如+15v30kuiR1R230k-15vCf1uCi-1uR-R1Hz。选用正弦信号作为测试信号时，可在X-t显示模式下观测。 注意由于元件（二极管、电阻等）参数数值的分散性，造成电路不对称，因而引起电容上电荷累++++uo图5.4.2积，影响实验结果，故每次实验启动前，需对电容进行短接放电。 - 33 自动控制理论实验指导 实验六 非线性系统相平面法

一．实验目的

1．学习用相平面法分析非线性系统。 2．熟悉研究非线性系统的电路模拟研究方法。

二．实验内容

1．用相平面法分析继电型非线性系统的阶跃响应和稳态误差。

2．用相平面法分析带速度负反馈的继电型非线性系统的阶跃响应和稳态误差。 3．用相平面法分析饱和型非线性系统的阶跃响应和稳态误差。

三．实验步骤

1．利用实验设备，设计并连接一未加校正的继电型非线性闭环系统的模拟电路，利用

?）相平面上的相轨迹，利用该相轨迹分析阶跃输入作测试信号，观测和记录系统在（e,e系统的阶跃响应和稳态误差，并与测得的系统偏差的阶跃响应作比较。

参阅本实验附录1,从图6.1.1和图6.1.2可知，利用实验箱上的单元U9、U6、U11、U15和U8可连成实验所需未加校正的继电型非线性闭环系统的模拟电路。可利用周期阶跃信号测试该非线性系统的相轨迹和阶跃响应，下面分两种情况说明测试方法。

无上位机时，利用实验箱上的信号源单元U2所输出的周期阶跃信号作为环节输入，即连接箱上U2的“阶跃”与系统的输入端（见图6.1.2的r(t)），同时连接U2的“锁零（G）”

?）分别与示波器的“X”和“Y”与运放的锁零G。然后将图1.1.2中的X1（即-e）和X2(即-e测试端相连，以便用示波器测试相轨迹。注意调节U2的周期阶跃信号的“频率”电位器RP5与“幅值”电位器RP2，以保证观测到相轨迹和完整的系统误差阶跃响应。

有上位机时，必须在熟悉上位机界面操作的基础上，充分利用上位机提供的虚拟示波器与信号发生器功能。为了利用上位机提供的虚拟示波器与信号发生器功能，接线方式将不同于上述无上位机情况。此时可将系统输入端r(t)连到实验箱 U3单元的O1（D/A通道的输出端），将运放的锁零G连到实验箱 U3单元的G1(与O1同步)，将X1（即-e）连到实

?） 连到实验箱 U3单元的I2（A/D验箱 U3单元的I1（A/D通道的输入端），将X2(即-e通道的输入端），并连好U3单元至上位机的USB2.0通信线。接线完成，经检查无误，再给实验箱上电后，启动上位机程序，进入主界面。界面上的操作步骤如下：

①按通道接线情况: 选择第1路A/D输入I1作为环节中的采样信号X的输入端, 选择第2路A/D输入I2作为环节中的采样信号Y的输入端,选择第1路D/A输出O1作为环节的

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