（2）TTL门电路的标准高电压是 伏；标准低电压是 伏。 （3）若一个两输入或非门电路的输出电压是高电平，则输入端A接 电平；B端接 电平。
（4）三态门的三种状态分别为 ， ， 。 三、实验仪器
1数字电路实验仪 2 数字万用表
3 集成电路：74LS00、74LS04
四、实验内容和步骤
1、逻辑开关及发光二极管
（1）用万用表电压档（或电压表），万用表的正表笔接逻辑开关输出端K，负表笔接地，接通电源开关，并拨动逻辑开关，其输出端有高低电平输出，记下逻辑开关位置与高低电平的关系。
（2）用导线将逻辑开关输出端K与发光二极管输入端L相连，拨动逻辑开关输出高低电平，二极管会亮、暗，记下二极管是在输入高电平还是低电平亮。
2、门电路逻辑功能测试
集成电路的管脚功能见附录。 （1）与非门逻辑功能测试
将二输入四与非门74LS00的输入端分别接至逻辑开关，输出端接至
发光二极管进行显示，电源14脚接＋5V，7脚接地。
（2）按门电路的输入变量取值组合进行测试，并记录对应的输出状态，与门电路的真值表进行比较。
3、其它门电路逻辑功能测试
将集成电路分别换成74LS04进行测试并与对应电路的真值表进行比
较。
4、分析下图中电路的逻辑功能，并列出其真值表。然后用集成电路中的非门及与非门按图接线，输入端接高低电平开关，输出端接发光二极管，测试其逻辑功能并得出真值表，将分析
﹠A1﹠﹠Y1B 结果与测试结果进行对比。
5、选做项目
设计一个数字锁。该锁示意图如下左图所示，其中A,B,C,D是四个代码输入。每把锁都有规定的四位数字代码（如0101，1001等，可由同学自
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`
编）。如果输入代码符合该锁的代码时，锁才能被打开（Z1=1）；如果不符，开锁时，电路发出报警信号（Z2=1）。不开锁时，即没有输入（A,B,C,D均为0）时，无信号输出（Ｚ1=0,Ｚ2=0）。要求使用最少的与非门和非门实现。
实验时，锁被打开或被报警可分别用两个发光二极管发光与否来表示。参考电路如下图(开锁代码1001)。
ABCD11﹠1﹠1﹠Z2﹠1Z1
五、实验注意事项 1、使用TTL门电路时，一定要正确连接电源端和接地端。否则极易烧坏集成门电路。
2、门电路的多余输入端应妥善处理。
3、电路发生故障，可使用数字万用表逐级跟踪检查。 六、实验报告要求
1、画逻辑电路图、列真值表、写出逻辑表达式。 2、对实验结果进行讨论。
实验五 触发器及移位寄存器
一、 实验目的
1学习触发器使用及逻辑功能的测试方法。 2验证D触发器的逻辑功能。
3测试移位寄存器的逻辑功能。 二 、实验仪器
1 直流稳压电源（5V）
2 数字电路实验仪 3 数字万用表
4 集成电路： 74LS74（上升沿D触发器） 三、 实验内容
1 集成D触发器逻辑功能测试
74LS74是双D触发器，其功能脚见附图。任选一个，将其CP端接单拍脉冲输出，S、R、D端分别接三个逻辑开关，Q端接发光二极管。集成块电源脚14接＋5V，7接地。通电实验，先测试置位端，将结果记于表1。再将SD、RD置高电平，测试逻辑功能，将结果记于表2。
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表2 表1 SD 0
RD 1
Q D 0 1 Qn 0 1 0 1 Qn+1 V4 1Hz 5V43211CLK1D~1CLRU7A~1PR1Q~1Q56X13 2.5 V1 0 J174LS74D Key = Space2移位寄存器
4位移位寄存器由2片双D触发器74LS74（管脚功能见附图）连接而成。其电源脚14接＋5V，7接地。置1端SD连起来接高电平，置0端RD连起来接一逻辑开关，此开关便是移位寄存器的清零开关（拨低电平清零后拨回高电平）。4个D触发器的CP端连起来接单次脉冲信号输出端。再按下图接好完整电路。输出Q1、Q2、Q3、Q4、从左到右分别接4个发光二极管，串行输入D0接一逻辑开关作为数据输入。
测试时先清零，然后在串行输入D0 端由逻辑开关置数（单位或多位）输入数据，在时钟控制端CP加脉冲信号，可看到每输入一个脉冲信号，数据右移一位。输入4个数据进行测试，将结果列表记录下来。
四、 实验总结报告
1 整理实验数据，画出实验电路图。
2 根据实验结果，总结触发器逻辑功能。 3 总结RD、SD端的使用。
4画出移位寄存器的输出波形。
五、实验注意事项
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要正确连接各个部分的线路。
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