马赫曾德尔干涉仪瞬态干涉条纹采集技术及其在激光等离子体测试中(16)

２激光等离子体测试方法概述硕士论文束光束，一束经过探测区，一束作为参考光与其进行干涉。实验得到的干涉条纹就携带了探测对象的相位信息，然后利用合适的算法对干涉图像进行处理，就可以得到激光等离子体引起探测光的相移。一般情况下，激光等离子体具有轴对称结构，通过Ａｂｅｌ逆变换获得激光等离子体的折射率的三维分布，再根据等离子体电子密度与折射率的关系，就可以确定激光等离子体的电子密度以及中性粒子的密度。激光干涉法一般包含全息干涉测量法【５ｌ】、激光差分干涉法、激光外差干涉法、马赫．曾德尔干涉测量法等。这种测量方法都是非接触式的，在加上干涉仪在仪器的灵敏度、测量精度等方面都优于其它的测试仪器，因此有着非常广泛的用途，基于此本文就使用了马赫曾德尔干涉仪，并对该测量仪器进行改进。

１．非干涉探测法

（１）光学阴影法

光学阴影法的基本原理是穿过不同的激光等离子体区域的探测光线偏转角会不同，从而导致成像面强度的变化。相对来说，光学阴影法是一种比较简单的探测方法，实验布局更为简单，甚至成像时物镜都不是必须的。图２．２是光学阴影法的原理图。

像面

图２．２光学阴影法的原理图

将一束散射或者平行光透过激光等离子体区投射到接收装置时，若检测区没有激光等离子体产生，密度均匀，屏幕上亮度就均匀；若检测区有激光等离子体产生，探测光线会因为激光等离子体区密度的变化而发生偏转，原本应落在（ｘ，ｙ）坐标的光线落到了一，Ｙ’）处。屏幕上就呈现亮暗不均匀的图像。

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若入射光强厶均匀分布，那么探测器上的厶满足

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