3米法半电波暗室及EMI测试系统(2)

3M z2 H的复合 E I收天线；沿用原有的 0 H-G z M接E C 3型E接收机，

S S0 MI覆盖频率范围9H -. G z k z2 5 H o 7各种测试仪器设备通过G I接口联结，用电磁兼容测 PB试软件控制构成自动测试系统，如图1所示。

另外， 从安全考虑，安装火警探测系统用于E T U和吸波材料出现火警的探测，采用空气取样分析装置，而不能在暗室内部安装电子探测装置。电波暗室安装在室内，由原先的一层建筑扩建而 成，使暗室每边留出至少1米的空间，暗室置于水泥台图1 ! E测量系统 M

面上，台面保证平整度要求并做好防湿处理，暗室通过绝缘垫直接放在地板，要保证绝缘性能。 3工艺保证 . 2要保证暗室符合设计技术指标要求，就要执行严

另外，在电波暗室内配备两套C T监控系统， CV一套固定系统，另一套为移动系统。

4测试方面的考虑 . 2测试软件采用罗德与施瓦兹 (/ ) RS公司的测试软

格的工艺措施，杜绝或尽量减小影响屏蔽效能或吸波

件，自动测试软件使计算机通过G I接口 P B控制试验转台转动和天线塔升降， -m在14高度和30 60水平角度范围内对E T U进行扫描，并将接收机采集到的数据传送到

性能的因素的干扰，对水泥地面平整度、屏蔽体及支架的水平度和竖直度、屏蔽体对地绝缘性能、屏蔽壳

国统刊 N14/,内一号C314 -2 T B,

学术论文

导巍EP i盼}d试 P(N -T G U i EJ A N

一种特殊变比的电压互感器校准方法宋韬于国发/山东省计量科学研究院

本介了特变电互器校方 种殊比压感的准法并以为对准方文绍一此例校的法进适的析伸行了当分和引。 _关词键校准；互感器；变比；负荷

引言

2校准方法

在日 常的检定、校准工作中，经常会遇到各种特殊变比的互感器校准情况，现举一例，对其校准方法进行分析说明。计算机。在对大量设备的测试过程中， 应不断地摸索、总

一台日本横河电机制作所生产的0级电压互感 . 2型号为P 1 T,额定负荷为1V S A,C (- ., V A, OS 1 D 0 3010四个电压变比比较特殊，分别为：30/1量准确性与测量速度的折衷，需要技术人员的积累，本文介绍山东省计量科学研究院半电波暗室设计、建

结试验经验，探寻各类设备的最佳测试方位、主要骚扰的频率信息、接收天线高度等，尽可能在保证测试结

果准确性的基础上缩短测量时间，提高测量效率。 ET U的辐射发射与其骚扰源及设备结构及连接线缆有关，同一种设备或同类设备有相似的特点，因此，总结E T U摆放位置与辐射发射量值的关联，对于提高测量效率有重要作用。

造及测试系统配置过程中的一些经验，仅供相关工程技术人员参考。参考文献1符荣梅.米法半电波暗室 ( MC 3 E检测试验室 )的建设及E测试 MI

技术实践.计算机工程与应用， 014 1 - 0 20, ) 1 1 . (: 8 22傅静波，江峰，粱志成.建设电磁兼容实验室关键技术的探讨.电

除了E T U对接收天线的方位影响测量结果外，接收天线的高度也影响测量结果。对于某一频率的辐射信号，在14测量范围内接收信号大小随高度的不同在 -m最大值和最小值之间变化，根据反射理论可大致确定某一频率下最大测量值对应的高度，因此，了解辐射

子质量， 03(:1 2 20, ) - . 822 3彭祥军.紧缩型E C M暗室的安装工艺.安全与电磁兼容， 02(: 20, ) 24 -2 04 .

4陈刚，蒋全兴.电磁兼容自动测试系统的完善.国外电子测量技

术， 96(: 3 1, 2 . 9 4 3- ) 35 We e She rFc r dtmn g t e o at a d r af. t s e in t sed u m t E m c e ao er i e p s f o e MI m a r n . 5 E e aoaSm oi o E, na A es e t 19 IE It t nl ps m MC Al tG u me s 9 E n r i n y u n t/ ap . 62 9 p 7 -7 . 2

信号的频率信息并在相应高度段测量有利于尽快找到最大辐射超标值。在辐射测量中，要E T U的骚扰源频率信息，预扫描

Th 3 s mi n c oc a e a d e e - e h i c mb r m a h n

是一个非常重要的环节。通过预扫描可以了解骚扰信号较强的频率点，进而可在测量时结合E T U的特点确定 ET U方位、天线高度及测量频段配合方案，大大提高测量速度。5结束语

E tsn ss m MI t g t ei y eC o j La Z egag u i eg a R i i hnun L H z n ui n uh(hnog tu o Meo g 20 1) Sadn Ist e t l y 04 n i t f r o 5A s at T i ppr rdcs s n d nt co o 3

sm - bt c: s e i oue d i a c sutn m i r h a n t e g n o r i f e

J 急之，电波暗室的设计、建造完成后的性能指标受多方面因素制约，需要从部件设计及制造工艺上采

aehica br E t tg t . teta a o us . nco hm ead e i ssm Te m n r l d cs d c n MI n y e r s a s s i e e s Ky rs aehi ca br e co ant cm abi; tg e w d: co hm e; tm gec ptiy t i o n c lr e i o il e n t sss m yt e

取一定措施加以保证，而辐射E I M测量过程则是追求测

1国统刊 N14/ 2内一号C314 -2租

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