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西北工业大学数电实验报告1

来源:网络收集 时间:2019-04-01 下载这篇文档 手机版
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实验1 TTL集成逻辑门参数测试

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一、实验目的:

(1)加深了解TTL逻辑门的参数意义。

(2)掌握TTL逻辑门电路的主要参数及测量方法。 (3)认识各种电路及掌握空闲端处理方法。

二、实验设备:

数字电路实验箱,数字双踪示波器,函数信号发生器,数字万用表,74LS00,电位器,电阻。

三、实验原理:

门电路是数字逻辑电路的基本组成单元,目前使用最普遍的双极型数字集成电路是TTL逻辑门电路。

TTL集成电路的使用规则:

(1) 插集成块时,要认清定位标记,不得插反。

(2) 使用电源电压范围为+4.5V~+5.5V。实验中要求使用Vcc=+5V。电源极性不允

许接错。

(3) 空闲输入端处理方法。悬空,相当于正逻辑“1”,一般小规模集成电路的数据

输入端允许悬空处理。但易受外界干扰,导致电路逻辑功能不正常。因此,对于接有长线的输入端,中规模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路,所有控制输入端必须按逻辑要求接入电路,不允许悬空。

(4) 输入端通过电阻接地,电阻值的大小将直接影响电路所处状态。 (5) 输出端不允许并联使用(三态门和OC门除外),否则不仅会使电路逻辑功能混

乱,并会导致器件损坏。

(6) 输出端不允许直接接电源Vcc,不允许直接接地,否则会损坏器件。

四、实验内容: 1、 TTL信号的产生 2、 与非门的测试

3、 用74LS00实现逻辑函数:

F=AB F=A+B

+B F=A○

五、实验结果: F=AB=AB?? F=A+B=A?1????

+B=A?AB????? F=A○

CH1—A:TTL CH2—B:0V CH2—B:+5V F=AB F=A+B +B F=A○

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