输入距离后，按?键 完成
测试完成界面
图5-1-4 测试斜探头零点声速
如果用IIW试块（又称荷兰试块，无R50圆弧）测斜探头声速，则试块“一次声程”输入100mm，其它操作与CSK-IA类似。
详细举例参见7-1。
注：
测零点声速时不可调延时，不可更换通道，也不可嵌套其它测试；
确认回波时应注意在屏幕左上角有“测零点声速”提示时才可按<确认>键；
确认进波门内回波时，需波高为80%左右，否则有可能造成测试误差，当所需回波处于进波门内但波高不是80%时，稍等片刻，仪器会自动调节增益，使回波高度约为80%；如果回波不在进波门，可移动“A门位”使回波处于进波门内。
在示例中所输入数值仅为举例，应根据使用试块的实际情况进行输入。
5-1
测折射角度
1． 目标反射体直径： mm 2． 反射体中心深度： mm 3． 标称Ｋ值折射角： / ? 按? 键开始测试
按<调校>键出现调校菜单后，按<2>选择测折射角度，屏幕出现提示“先测零点声速？
y/n”，如测过零点声速则选择“n”，此时出现如下对话框：
根据所用探头和试块输入数据，仪器自动预置增益、声程、波门等参量，如果输入值与
实际值误差较大，将会导致错误结果，需重新输入正确数据并测试。开始测试后可参照提示在试块上移动探头或调节参量使反射体最高回波出现在进波门内时按键确认即可。
在测试过程中仪器会自动记录门内出现的最高波，并且会自动增减增益调整回波高度，
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使门内最高波在预设值（一般80%）附近。门内出现的最高波的指示方式有两种，一是十字光标，一种是峰波记忆，按<功能>键可以在光标与峰波之间切换，当切换到峰波指示最高波后，则自动增降增益功能不再起效。在测试时按<增益>键可以将门内回波自动增减到预设值，配合峰波指示使用较佳。
例1：用CSK-IA或IIW试块的?50孔测标称K值为1.5的探头的实际K值，目标反射体直径、反射体中心深度和标称K值折射角三项分别输入50mm、 70mm和1.50，三项全部正确输入后按<确认>键开始测试。仪器在波形区左上角提示：
使中心深度70.0 mm 反射体最高回波 在门内，?确认
将探头和试块如右图5-2-1放置，移动 探头使反射体（?50孔）的最高回波 出现在进波门内，确认后仪器算出K 值和折射角，确认测试值后存储, 如 图5-2-2所示。
测试过程中
测试完成界面
图5-2-2 测试斜探头K值/折射角度
图5-2-1
例2：用CSK-IIIA试块深40mm ?1的孔测标称K值为1.5探头的实际K值，反射体中心深度、目标反射体直径和标称K值折射角三项则分别输入40.0mm、1.0mm和1.50，三项全部正确输入后按<确认>键开始测试。仪器在波形区左上角出现提示框（参见例1）。将探头和试块如右图5-2-3放置，移动
探头使目标反射体（深40mm的?1 孔）的最高 回波出现在进波门内，按<确认>键后仪器算出K 值和折射角，确认测试值后仪器自动存储。
图5-2-3
值得注意的是，为了适应各种可能的情形（由于可能使用各种不同深度或不同直径的孔或棱角，其反射体直径有的可忽略，如用CSK-IIIA试块上的小孔测K值，但有些是绝不能忽略的，如例1中所举的?50孔，如忽略会导致错误结果），因此在测试中仪器会自动将声
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程标度设为（S），即距离。如例1所示，如果输入K值与实际K值相等或很相近，则在试块中超声波的行程约为101mm，由于在一般测试过程中，进波门设在第七格至第八格，反射体最高回波将处于第七格至第八格中，因此，虽然在提示中是“深度70mm”，但是在屏幕下方，最高回波处的标尺数值取整后可能是“100mm”，应注意是声程值（即距离），而不是深度值。 注：如果声速零点未校准，则所测K值会有错误，应先测准声速和零点;
反射体深度是指探测面到反射体中心的距离，而不是反射面;
仅在屏幕左上角有“测折射角度”提示且波高约为80%时才可确认回波; 测K值时不可调延时，不可更换通道，也不可嵌套其它测试;
如果由于实际K值与标称K值误差较大，导致最高回波不在进波门内，可调节进波门参数或声程，使所需最高波处于进波门内。
5-2
制作DAC
按<调校>键出现调校菜单后，按<3>选择制作DAC，屏幕左上角出现提示：“先测零点K值？y/ n”，如按
1． 最大深度： mm 2．反射体直径： mm 3．反射体长度： mm ? 键测试?修正
输入数据并确认后即开始制作DAC曲线。屏幕左上端参数区有DAC三字，且波形区右上端出现提示框：
+ - 键选择目标回波 ?结束测试
在制作DAC过程中可调节波门、增益、声程等各项参量，其它参量只能是测试之前在参数菜单中输入。
在试块上移动探头，当反射体最高波出现时稳住探头，按<＋>或<－>键，则屏幕冻结，且在一个波峰上出现一个光标，再按<＋>或<－>键可移动此光标至下一个波峰，同时参数区会同步显示该波峰的位置、波高等参数，按键选中光标所在的回波，在仪器画好DAC曲线上的一点后，回波将被解冻，此时可在试块上移动探头，寻找来自另一深度的缺陷波。如果发现因未找到最高回波而使某一点偏低，使得DAC线不够准确，可重新寻找该点的最高回波，按<＋>或<－>键重新将光标移到该点的最高回波上再按键选中该点，该点将被补高。
在测试过程中仪器测试第一个点时会自动增减增益调整回波高度，使门内最高波在预设值（一般80%）附近，当有按键后，自动增减增益功能失效。门内出现的最高波的指示方式有两种，一是十字光标，一种是峰波记忆，按<功能>键可以在光标与峰波之间切换，当
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切换到峰波指示最高波后，则自动增降增益功能不再起效。在测试时按<增益>键可以将门内回波自动增减到预设值，配合峰波指示使用较佳。
当测试点多于一点时，提示框变为如下所示：
+ - 键选波 ?修正 #退出 ?完成
按键可以对已测点进行修正，同时提示框变为如下所示：
按键可以选择待修正的已测点，待修正点会有十字光标指示，此时按<＋>或<－>键可以调整该点的高度，按<#>键能清除该点。按键完成修正工作。
所有点测试完毕后，若认可已制作完成的DAC母线，按键完成。再输入表面补偿值和工件厚度，按键结束测试。仪器根据标准设置自动生成DAC曲线（默认设置为JB/T4730-2005），如图5-3。详细举例参见第八章。
?选点 + - 调整 #清除 ?修正
注：
图5-3 DAC曲线
必须测准零点（声速）、K值，否则所制作DAC曲线不准确； 仪器可自动调节增益，使进波门内回波幅度约为80%；
仅在参数区有“制作DAC”且进波门内有回波高于10%时再使用加或减号键，屏幕才会冻结，才能进行移点选波，对此要特别注意。 AVG制作方法与DAC类似，
5-3
测仪器性能
测试前务必在设置菜单中将“探头类型”设为直探头，探头频率为2.5M。
在调校菜单中选中测仪器性能，屏幕上出现提示：“查看前次测试结果！Y是 N否”，如选择“Y”则查看前次测试的仪器性能指标，如选择“N”则出现以下提示框：
将直探头放在25mm厚试块上，回波稳定后?
用户按<确认>键开始进行仪器探头组合性能测试。
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1．水平线性测试
1）如图5-4-1所示，将直探头放置CSK-IA试块上，测声速零点（参见5-1，默认声波类型为纵波，试块声程为50mm）
2）声速零点测准后，声程范围改为125mm，使25mm厚试块的一至五次回波依次出现在第二、四、六、八和十格，用户仅需保持探头不动，仪器会自动调整增益、进波门位，使进波门内回波高为50%，最后计算出水平线性值。
25mm 图5-4-1 CSK—IA 2．分辨力测试
1）波形区左上方提示：
请将探头置于试块上当深 85和91两回波等高且稳 定时?确认并稳住探头
如图5-4-2所示，用户在CSK-IA试块上移动直探头，当85mm和91mm两处的回波
等高且为50%时按<确认>键，用户稳住探头并等待片刻，仪器自动增加增益使两波的波谷上升为50%，仪器记下增益差，即为直探头分辨力。仪器屏幕波形如图5-4-3所示。
CSK—IA 图5-4-2 91mm 85mm 仪器屏幕波形显示
图5-4-3
3．垂直线性及动态范围测试 1）波形区左上方提示：
在CS-1-5试块上移动探头当200mm处?2平底孔回波
最高时?确认并稳住探头
如图5-4-4所示，用户在CS-1-5试块上移动直探头，当200mm深?2平底孔处的回波
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