抽样计划基础知识培训

抽样计划基础知识和过程能力评估

一、抽样计划使用的标准

1、GB/T 2828.1-2003/ISO 2859-1:1999计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划

2、MIL-STD-105E、 MIL-STD-1916（0收1退）计数抽样计划--国际军用抽样标准

3、GB/T 6378-2002不合格品率的计量抽样检验程序及图表(适用于连续批的检验)

二、抽样计划流程 1、计数抽样计划流程 不良数D≤Ac,允收不良数D≥Re,拒收 查表求出样本量n,允收值Ac,拒收值Re 检验n件 检验n件 不良数D1≤Ac1,允收 不良数D1≥Re1,拒收 在执行国际军用标准时存在不良数位于接收和拒收区间的情况 二次抽样允收的数是第一次和第二次不良数之和 选定质量检验项目 选定批量N和允收水准AQL （1）正常、加严、减量 （2）S1,S2,S3,S4,Ⅰ,Ⅱ,Ⅲ （3）一次，二次抽样 一次抽样 二次抽样 查表求出n1,Ac1,Re1和n2,Ac2,Re2 Ac1＜不良数D1＜ Re1,执行二次抽样 1.1在没有说明的情况下，一般使用一次正常检验水平Ⅱ的抽样方案 1.2在抽样中选择AQL值时，如果在查表中没有找到，则使用MINITAB系统

2、计量抽样计划流程

允收条件： 不同AQL Qu＞ku or QL＞kL 允收条件： Qu＞ku and QL＞kL 允收条件： Qu＞k and QL＞k and S＜最大样本标准差MSSD=fx×(USP- LSP)

相同AQL 单边规格 双边规格 QL=( X -LSP)/S X=∑xi/n； S=检验n件得出数值 2选定质量特性项目 选定批量N和可接受的最大不良率AQL 查表得出样本量n、合格判定值k及fx （1）正常、加严、减量 （2）S3,S4,Ⅰ,Ⅱ,Ⅲ ?(xi?x)/n 利用EXCEL计算fx(average,stdev) 计算平均值X和标准差S 上规格合格值Qu=(USP-X)/S 下规格合格值

3、抽样计划正常、加严及放宽之转换规则 3.1 GB-2828计数

开始 连续10批均允收且该10批之转换计算分数达到30分且顾客同意 连续2，3，4或5批中有2批被拒收 放宽 正常 加严 有1批被拒收 连续5批被允收

3.2 GB-6378计量

开始 连续10批均允收且AQL加严一级被允收且顾客同意 连续2，3，4或5批中有2批被拒收 放宽 正常 加严 有1批被拒收 连续5批被允收

三、不良率P和产品性能能力指标PPK的计算 3.1不良率P之计算：

3.1.1根据所测得的数值计算平均值X（离标准值的准确度）和标准差S（离散的精密

度）

3.1.2计算上下规格的分配值Zu和Zl Zu=(USP-X)÷S; Zl=(LSP-X)÷S 判定检验数值是否呈正态分配，则需要MINITAB软件认定 3.1.3根据Zu和Zl查标准正态分配表，得出上规格不良率Pu和下规格不良率Pl Pl=Ф（Zl）

Pu=1-Ф（Zu）因为上规格的不良率统计是从下规格作为起点统计的，所以需要用

100%减去统计的值才是超过上规格的不良率

3.1.4不良率P=Pu+Pl

3.1.5根据规定的不良率指标判定此批是否接收 3.1.6通过EXCEL计算更快捷 3.2产品性能能力指标PPK之计算

3.2.1根据所测得的数值计算平均值X和标准差S

3.2.2计算上规格性能能力指标CPU和下规格性能能力指标CPL

CPU=(USP-X)÷3S ； CPL=( X-LSP)÷3S 3.2.3取PPK值

PPK=min（CPU，CPL）

数值3的选取，视客户和公司的要求，现通常使用的有3和6，一般公司选3

3.2.4结果判定

⑴当PPK≥1.0（标准要求值为1.67）时，该产品性能指标符合要求且处于管制状态

⑵当PPK＜1.0（标准要求值为1.67）时，说明产品性能不稳定需要进行处理及过程能力指标CPK的分析并寻找对策改善

3.3过程能力指标CPK之计算

CPK的计算方式同PPK，其不同之处在于：

⑴PPK是针对进料和完工产品的性能测量分析，而CPK的测量分析数据则是来源于制程

⑵PPK多是使用在小试或量产初期进行测量分析，而CPK是在过程稳定的情况下进行监督测量和持续改进

⑶量产时，在制程中如果CPK≥1.0（标准要求值为1.33），则可以不做PPK的分析

四、量测系统合格判定 4.1计算流程

量测系统偏差评估 非如上所达成的条件，则表明此量测系统存在偏差和变异，可能的原因是：仪器没有校准；仪器所测之特性有误；标准值μ的选取有误；测量方式以及测量人员误差 如“0”落在偏差之信赖区间内表示该量具之偏差可接受，同时量测系统之变异σr应小于规格公差的1/10，即，σr≤选取样本(子组数量g)并确定标准值μ 确定测量次数n≥10次(子组大小m) 查平均全距分布值表求出有关分布值d2* 和其无限值d2，以及自由度ν 1、平均值X=∑xi/n 2、重复性标准差 σr=max(xi)?min(xi)d2*自由度值取四舍五入 实施测量 测量数据正态分析，需常态方可继续 测量数据偏差计算σb是由量测n 次数值的标准差预估出的量具整体标准差 求偏差之信赖区间 确定偏差（Bias）之T分配统计量Bias=X-μ；σb=σr/n -Bias-〔d2??bd2*?t12?,?〕≤0≤-Bias+〔d2??bd2*?t12?,?〕 的t分配值 注：α为生产冒险率=0.05（固定值），然后通过查T分配表得出t12?,?usp?lsp，10此时可判定该量具系统是合格的 附表：T分配和平均全距分布值

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