关于涂层测厚检测实验报告

关于涂层测厚检测实验报告

一、实验目的

1、熟悉防腐层的用途和种类

2、掌握各种防腐层质量检测的方法并熟悉设备使用 二、实验设备

磁阻测厚仪、超声波测厚仪、针孔电火花检测仪 三、实验原理

主要针对防腐层厚度和点蚀进行检测

1、磁阻测厚仪：采用磁感应原理，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度，也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。

2、超声波测厚仪：超声波测厚仪主要有主机和探头两部分组成。主机电路包括发射电路、接收电路、计数显示电路三部分，由发射电路产生的高压冲击波激励探头，产生超声波发射脉冲波，脉冲波经介质介面反射后被接收电路接收，通过单片机计数处理后，经液晶显示器显示测厚数值，它主要根据声波在试样中的传播速速乘以通过试样的时间的一半而得到试样的厚度。

3、针孔电火花检测仪——检测时该仪器的高压探头贴近被检测物，移扫时，当一旦遇到针孔、气泡等类似质量缺陷，高压电将此处的气隙击穿产生电火花，此时仪器就发出报警声，也可以通过观察火花来判断表面涂覆层质量和焊缝质量。电离物质得到能力，电子激发，电子激发形成电火花。击穿，非导电介质，被击穿变成导体。 四、实验步骤 1、超声波测厚仪 1）测量准备

将探头插头插入主机探头插座中， 按ＯＮ键开机，全屏幕显示数秒后显示上次关机前使用的声速，如下图所示，此时可开始测量。

2）声速的调整

如果当前屏幕显示为厚度值，按 VEL 键进入声速状态，屏幕将显示当前声速存储单元的内容。每按一次，声速存储单元变化一次，可循环显示五个声速值。如果希望改变当前显示声速单元的内容，用▲或▼键调整到期望值即，时将此值存入该单元。 3）校准

在每次更换探头、更换电池之后应进行校准。此步骤对保证测量准确度十分 关键。如有必要，可重复多次。

将声速调整到 5900m/s 后按 ZERO 键，进入校准状态，屏幕显示：

在随机试块上涂耦合剂，将探头与随机试块耦合，屏幕显示的横线将逐条消失，直到屏幕显示 4.00mm 即校准完毕。然后转入测量状态，测量随机试块，若示值误差超出仪器的测量误差还需再次进行校准，直到示值误差在测量误差范围内为止。 4）测量厚度

将耦合剂涂于被测处，将探头与被测材料耦合即可测量，屏幕将显示被测材料厚度，如图：

说明：当探头与被测材料耦合时，显示耦合标志。如果耦合标志闪烁或不出现说明耦合不好。拿开探头后，厚度值保持，耦合标志消失。如图 5）测量声速

如果希望测量某种材料的声速,可利用已知厚度试块测量声速。先用游标卡尺或千分尺测量试块，准确读取厚度值。将探头与已知厚度试块耦合，直到显示出一厚度值，拿开探头后，用▲或▼键将显示值调整到实际厚度值，然后按 VEL 键即可显示出被测声速，同时该声速被存入当前声速存储单元。声速测量必须选择足够厚度的测试块，推荐最小壁厚为 20mm 注意事项：1、耦合剂不能涂过多

2、测量数据应是多次测量取平均值 3、操作过程中保护实验仪器不被破坏。

例如测量某种材料得到厚度为：23.10mm，速度为：5557m/s。

2、HCC-24磁阻法测厚仪 步骤一

在仪器处于开机后的状态时，按一下“校正CAL”键，仪器屏上会出现“CAL”，同时会显示一个数值，该数值如果不为“ 0”，按“﹀”键，直到该数值由大到小变到“0”为止。然后将探头放在裸基体的测试面上进行测试（注意，这里的裸基体一定要和实际被测物的材料和形状完全相同。不要使用随机配备的标准金属基块，那只能用来验证仪器本身工作是否正常，不能用来校正仪器）。可以测试几下，待仪器上显示的数值基本稳定后，按一下 “校正CAL”键，仪器的零点便校正完毕，它会显示一个新的数值。 步骤二

接上一步骤，用第一个试片来校正。看一下仪器上显示的数值和随机配备最薄的试片的实际厚度是否一致，该片所标注的实际厚度在20μm左右。用“︿”或“﹀”键，使仪器上显示的数值和该试片的实际厚度值一致。然后将该试片平放在裸基体上，探头再压在上面进行测试，可以重复几次。待仪器显示的测量值稳定后，按一下“校正 CAL”键，第一个试片的校正结束，仪器又显示下一个校正片的厚度值。 步骤三

用步骤二相同的方法，只是所用试片要换成厚度 200μm左右的那一片。 步骤四

依然和步骤二相同，但所用的试片要换成1200μm左右的那一片。到这个步骤的最后阶段，按一下“校正CAL”键，仪器屏上还会继续显示一个校正片的厚度值，如 “1999”，不用再做下去了，再按一下“校正CAL”键，校正便全部结束了。这时的仪器便可以进行高准确度的实际测量了。

在以后使用时，如果有必要，可以再次做上面四个步骤的校正。仪器会记住了上次的零点和每个试片的厚度值，这样就可以根据仪器提示，不用再修正试片厚度

值，便能轻松完成各个步骤。

3、QNIX1200膜厚仪

测量范围为0－－2000μm或0-100mil不具备存储功能的仪器，可同时拉动两边的开关实现测量单位之间的转换。

在开机状态下，同时向前推动两边的开关并停留一秒一上，单位发生转换。仪器在存储状态工作时，可通过相应的程序软件实现从μm到mil之间的转换。 QNIX1200膜厚仪测量

测量时，把仪器的探头垂直的压在被测物体的表面。测量钢、铁基体时，“Fe”标签向上；测量其他非磁性金属基体时，“NFe”标签向上。仪器被错误放置时，液晶显示“ERR”。超过测量范围或在非金属基体上检测时，液晶显示“InFi”. 仪器自动开机，10秒不用自动关机。在测圆柱形表面时，移动红色的护套，使其上的V型槽对准被测件。不要在磁铁上进行检测，磁场将影响Fe探头的测量数据，强电磁场可能影响所有测量数据。 QNIX1200膜厚仪可能显示的信息 1．Fe = 在钢或者铁上检测 2．ERR = 操作错误

3．InFi = 使用错误基体，超出测量范围 4．BAT = 电池供电不足，需要更换新电池

总结：在涂层测厚实验中给我影响最深的是QNIX1200膜厚仪。它的测量范围为0.0-99.9μm时，分辨率为0.1μm测量范围为100-999μm时，分辨率为1μm。QNIX1200膜厚仪温度范围仪器自身带有温度补偿，是测量数据更精确，但是在实际测量当中出现的主要问题是无法测得数据，最开始的时候能准确调零，测量时，把仪器的探头垂直的压在被测物体的表面，但是测得的数据不稳定，且是错误的，这是实验中出现的主要问题。

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